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部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18245ADGGR D# V36:1790_07325132 |
Texas Instruments |
Scan Test Device RoHS: Compliant
|
0 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18245ADGGR |
Texas Instruments |
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP |
0 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18245ADGGR D# 2156-SN74ABT18245ADGGR-ND |
Rochester Electronics LLC |
SN74ABT18245A SCAN TEST DEVICES |
210 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18245ADGGR |
TEXAS INSTRUMENTS |
OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS |
30 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18245ADGGR |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
921 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18245ADGGR D# NS-SN74ABT18245ADGGR |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
3691 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18245ADGGR |
Texas Instruments |
SN74ABT18245A Scan Test Devices With 18-Bit Bus Transceivers RoHS: Compliant
|
210 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18245ADGGR |
Texas Instruments |
Scan Test Devices With 18-Bit Bus Transceivers |
12 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18245ADGGR |
Texas Instruments |
RFQ |
6856 |
Heisenerの品質へのこだわりは、調達、テスト、出荷、そしてその間のあらゆるステップのための私達のプロセスを形作りました。 この基盤は私達が販売する各部品の基礎になります。
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+86-755-83210559-827
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LPC8N04 MICROCONTROLLER
IC REG LINEAR 6V 1.2A SP3SUA
DC/DC CNVRTR 2X0.6-5V 144LGA
CONN RCPT USB TYPE B
IC BATT PROTECTION
IC ADC 12BIT 4CH W/SEQ 16TSSOP
IC RTC CLK/CALENDAR I2C 8-MSOP
TVS DIODE 5VWM 7.7VC SOT23
IC VIDEO SWITCH SPDT 16DSOIC
IC USB 2.0 4PORT HUB CTLR 36QFN