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部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18245ADL D# V99:2348_07325133 |
Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 56-Pin SSOP Tube RoHS: Compliant
|
0 |
SN74ABT18245ADLR D# V72:2272_07325134 |
Texas Instruments |
Scan Test Device RoHS: Compliant
|
0 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18245ADLR |
Texas Instruments | 3882 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18245ADLR |
Texas Instruments |
Min Qty 1 |
2172 |
SN74ABT18245ADL |
Texas Instruments |
Min Qty 1 |
2172 |
SN74ABT18245ADLRG4 |
Texas Instruments |
IC, SCAN TEST DEVICE, SSOP-56, Logic Type:Scan Test Device, No. of Channels:9, Input Level:2V, Output Level Type:TTL, Logic Case Style:SSOP, No. of Pins:56, Supply Voltage Range:4.5V to 5.5V , RoHS Compliant: Yes |
0 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18245ADL D# 296-3938-5-ND |
Texas Instruments |
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP |
38 |
SN74ABT18245ADLR D# 2156-SN74ABT18245ADLR-ND |
Rochester Electronics LLC |
SN74ABT18245A SCAN TEST DEVICES |
6000 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18245ADLR |
Texas Instruments |
In stock shipping within 2days |
1000 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18245ADL |
OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS |
1160 | |
SN74ABT18245ADLR |
Texas Instruments |
OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS |
3987 |
SN74ABT18245ADLRG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS |
207 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18245ADLR98 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
349 |
SN74ABT18245ADLR99 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
887 |
SN74ABT18245ADL |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
791 |
SN74ABT18245ADLR0010 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
779 |
SN74ABT18245ADLR |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
438 |
SN74ABT18245ADLRG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
1041 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18245ADLR |
Texas Instruments |
OEM/CM Immediate delivery |
1000 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18245ADL D# 595-SN74ABT18245ADL |
Texas Instruments |
Specialty Function Logic Scan Test Device RoHS: Compliant
|
79 |
SN74ABT18245ADLR D# 595-SN74ABT18245ADLR |
Texas Instruments |
Specialty Function Logic Scan Test Device RoHS: Compliant
|
225 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18245ADL D# NS-SN74ABT18245ADL |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
10177 |
SN74ABT18245ADLRG4 D# NS-SN74ABT18245ADLRG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
6545 |
SN74ABT18245ADLR D# NS-SN74ABT18245ADLR |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
1761 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18245ADL |
Texas Instruments | 23 | |
SN74ABT18245ADLR |
Texas Instruments |
ABT SERIES, DUAL 9-BIT BOUNDARY SCAN TRANSCEIVER, TRUE OUTPUT, PDSO56 |
1737 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18245ADL D# SN74ABT18245ADL |
Texas Instruments |
Semiconductor |
73 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18245ADLR |
Texas Instruments |
SN74ABT18245A Scan Test Devices With 18-Bit Bus Transceivers RoHS: Compliant
|
6000 |
SN74ABT18245ADL |
Texas Instruments |
SN74ABT18245A Scan Test Devices With 18-Bit Bus Transceivers RoHS: Compliant
|
186 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18245ADLRG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
190 |
SN74ABT18245ADLR |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
10333 |
SN74ABT18245ADL |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
2143 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18245ADLR |
Texas Instruments |
IN stock Immediate delivery |
995 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18245ADLR |
Texas Instruments |
Scan Test Devices With 18-Bit Bus Transceivers |
4 |
SN74ABT18245ADL |
Texas Instruments |
Scan Test Devices With 18-Bit Bus Transceivers |
1 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18245ADLR |
TEXAS |
shipping today |
555 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18245ADLR D# 29727358 |
Texas Instruments |
Scan Test Device RoHS: Compliant
|
0 |
SN74ABT18245ADL D# 46912204 |
Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 56-Pin SSOP Tube RoHS: Compliant
|
0 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18245ADLR |
mfr |
RFQ |
12093 |
SN74ABT18245ADL |
Texas Instruments |
RFQ |
6912 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18245ADLR |
Texas Instruments |
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP |
1906 |
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