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| 部品番号 | SN74ABT18640DLRG4 |
|---|---|
| メーカ | Texas Instruments |
| 説明 | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP |
| データシート | |
| パッケージ | 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) |
| ECAD |
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| 在庫 | 7,904 piece(s) |
| 単価 | Request a Quote |
| リードタイム | 確認する |
| 推定配達時間 | 11 8 - 11 13 (迅速な出荷を選択) |
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| 配達サービス |
| メーカ | Texas Instruments |
| 範疇 | 集積回路（IC） - ロジック - 特殊ロジック |
| パッケージ | 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) |
| ECAD |
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| シリーズ | 74ABT |
| ロジックタイプ | Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers |
| 供給電圧 | 4.5 V ~ 5.5 V |
| ビット数 | 18 |
| 動作温度 | -40°C ~ 85°C |
| 取付タイプ | Surface Mount |
| パッケージ/ケース | 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) |
| サプライヤデバイスパッケージ | 56-SSOP |
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1210Y5000471KFT | Knowles Syfer, CAP CER 470PF 500V C0G/NP0 1210, 1210 (3225 Metric), 74ABT | 見る |
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08053C472KAT2A | AVX Corporation, CAP CER 4700PF 25V X7R 0805, 0805 (2012 Metric), 74ABT | 見る |
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SMAJ4475E3/TR13 | Microsemi Corporation, DIODE ZENER 27V 1.5W DO214AC, DO-214AC, SMA, 74ABT | 見る |
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XC6121A547MR-G | Torex Semiconductor Ltd, IC WATCHDOG TIMER SOT-25, SC-74A, SOT-753, 74ABT | 見る |
 
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XC7K410T-2FFG900C | Xilinx Inc., IC FPGA 500 I/O 900FCBGA, 900-BBGA, FCBGA, 74ABT | 見る |
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8N3DV85BC-0005CDI | IDT, Integrated Device Technology Inc, IC OSC VCXO DUAL FREQ 6-CLCC, 6-CLCC, 74ABT | 見る |
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LT1ZV40A | Sharp Microelectronics, LED AMBER DIFFUSED 0805 SMD, 0805 (2012 Metric), 74ABT | 見る |
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MCR10EZPJ4R7 | Rohm Semiconductor, RES SMD 4.7 OHM 5% 1/8W 0805, 0805 (2012 Metric), 74ABT | 見る |
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OSTVM183552 | On Shore Technology Inc., TERM BLOCK PLUG 18POS STR 3.81MM, -, 74ABT | 見る |
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JTG06RT-14-35S-023-LC | Amphenol Aerospace Operations, CONN PLUG HSG FMALE 37POS INLINE, -, 74ABT | 見る |
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EEM22DRMH-S288 | Sullins Connector Solutions, CONN EDGE DUAL FMALE 44POS 0.156, -, 74ABT | 見る |
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VSK-S25-5U | CUI Inc., CONV AC/DC 25W 5V 4.1A PCB, 6-DIP Module, 74ABT | 見る |
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| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18640DL D# V99:2348_07325139 |
Texas Instruments |
Scan Test Device RoHS: Compliant
|
0 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18640DLRG4 |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP |
0 |
SN74ABT18640DL |
Texas Instruments |
IC, SCAN TEST DEVICE, SSOP-56, Output Current:-, Logic Type:Scan Test Device, No. of Channels:9, Input Level:2V, Logic Case Style:SSOP, No. of Pins:56, Supply Voltage Min:4.5V, Supply Voltage Max:5.5V, Operating Temperature Min:-40C, RoHS Compliant: Yes |
0 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18640DL D# 2156-SN74ABT18640DL-ND |
Rochester Electronics LLC |
SN74ABT18640 SCAN TEST DEVICES W |
8239 |
SN74ABT18640DLRG4 D# SN74ABT18640DLRG4-ND |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP |
0 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18640DL |
TEXAS INSTRUMENTS |
OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS |
42 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18640DL |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
1087 |
SN74ABT18640DLRG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
1068 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18640DL D# 595-SN74ABT18640DL |
Texas Instruments |
Specialty Function Logic Device w/18-Bit Inv Bus Transceiver RoHS: Compliant
|
40 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18640DL D# NS-SN74ABT18640DL |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
2297 |
SN74ABT18640DLRG4 D# NS-SN74ABT18640DLRG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
4428 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18640DL |
Texas Instruments |
SN74ABT18640 Scan Test Devices With 18-Bit Inverting Bus Transceivers RoHS: Compliant
|
8239 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT18640DL |
Texas Instruments |
Scan Test Devices With 18-Bit Inverting Bus Transceivers |
2 |
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