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| 部品番号 | SN74ABT8543DWRG4 |
|---|---|
| メーカ | Texas Instruments |
| 説明 | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC |
| データシート | |
| パッケージ | 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| ECAD |
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| 在庫 | 4,624 piece(s) |
| 単価 | Request a Quote |
| リードタイム | 確認する |
| 推定配達時間 | 2 21 - 2 26 (迅速な出荷を選択) |
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| 配達サービス |
| メーカ | Texas Instruments |
| 範疇 | 集積回路（IC） - ロジック - 特殊ロジック |
| パッケージ | 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| ECAD |
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| シリーズ | 74ABT |
| ロジックタイプ | Scan Test Device with Registered Bus Transceiver |
| 供給電圧 | 4.5 V ~ 5.5 V |
| ビット数 | 8 |
| 動作温度 | -40°C ~ 85°C |
| 取付タイプ | Surface Mount |
| パッケージ/ケース | 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| サプライヤデバイスパッケージ | 28-SOIC |
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SIT1602BC-23-18N-4.096000G | SiTime, -20 TO 70C, 3225, 50PPM, 1.8V, 4, -, 74ABT | 見る |
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SIT1602BI-82-25E-33.333330Y | SiTime, -40 TO 85C, 7050, 25PPM, 2.5V, 3, -, 74ABT | 見る |
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C330C154J1G5TA | KEMET, CAP CER RAD 150NF 100V C0G 5%, -, 74ABT | 見る |
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0805Y3000200GQT | Knowles Syfer, CAP CER HIGH Q 0805, -, 74ABT | 見る |
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5561704304 | Dialight, LED PNL MT 1" 24V WT FLAT YEL, -, 74ABT | 見る |
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CXM-6-35-90-18-AA32-F4-3 | Luminus Devices Inc., LED COB 3500K WARM WHT RECTANGLE, -, 74ABT | 見る |
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JK1APF-24V | Panasonic Electric Works, RELAY GEN PURPOSE SPST 8A 24V, -, 74ABT | 見る |
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RLR32C4750FRR64 | Vishay Dale, RES 475 OHM 1% 1W AXIAL, Axial, 74ABT | 見る |
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1-796695-4 | TE Connectivity AMP Connectors, TERM BLOCK HDR 14POS 90DEG 3.5MM, -, 74ABT | 見る |
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801-93-024-20-001000 | Mill-Max Manufacturing Corp., CONN SOCKET 24POS .100 R/ANGLE, -, 74ABT | 見る |
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FTR-131-02-L-D | Samtec Inc., SMT .050'' STRIPS, -, 74ABT | 見る |
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206426-1 | TE Connectivity AMP Connectors, CONN PLUG HSG MALE 3POS INLINE, -, 74ABT | 見る |
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| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8543DW D# V36:1790_07325417 |
Texas Instruments |
Scan Test Device RoHS: Compliant
|
0 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8543DW |
Texas Instruments | 34 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8543DWRG4 |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC |
0 |
SN74ABT8543DW |
Texas Instruments |
LOGIC, SCAN TEST DEV/TXRX, 28SOIC |
41 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8543DWRG4 D# SN74ABT8543DWRG4-ND |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC |
0 |
SN74ABT8543DW D# 2156-SN74ABT8543DW-ND |
Rochester Electronics LLC |
SN74ABT8543 SCAN TEST DEVICES WI |
21242 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8543DW |
Texas Instruments |
OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS |
71 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8543DW |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
975 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8543DW D# 595-SN74ABT8543DW |
Texas Instruments |
Specialty Function Logic Device w/Octal Rgstr Bus Transceiver RoHS: Compliant
|
95 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8543DW D# NS-SN74ABT8543DW |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
5029 |
SN74ABT8543DWRG4 D# NS-SN74ABT8543DWRG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
1913 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8543DW |
Texas Instruments | 27 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8543DW |
Texas Instruments |
SN74ABT8543 Scan Test Devices With Octal Registered Bus Transceivers RoHS: Compliant
|
21242 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8543DW |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
272 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8543DW |
Texas Instruments |
Scan Test Devices With Octal Registered Bus Transceivers |
3 |
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