| 部品番号 | SN74ABT8646DL |
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| メーカ | Texas Instruments |
| 説明 | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP |
| データシート | |
| パッケージ | 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) |
| ECAD |
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| 在庫 | 6,608 piece(s) |
| 単価 | $ 13.3718 * |
| リードタイム | 確認する |
| 推定配達時間 | 1 5 - 1 10 (迅速な出荷を選択) |
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| お支払い方法 | |
| 配達サービス |
| メーカ | Texas Instruments |
| 範疇 | 集積回路（IC） - ロジック - 特殊ロジック |
| パッケージ | 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) |
| ECAD |
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| シリーズ | 74ABT |
| ロジックタイプ | Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers |
| 供給電圧 | 4.5 V ~ 5.5 V |
| ビット数 | 8 |
| 動作温度 | -40°C ~ 85°C |
| 取付タイプ | Surface Mount |
| パッケージ/ケース | 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) |
| サプライヤデバイスパッケージ | 28-SSOP |
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CC1206ZRY5V7BB155 | Yageo, CAP CER 1.5UF 16V Y5V 1206, 1206 (3216 Metric), 74ABT | 見る |
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381LX331M350A022 | Cornell Dubilier Electronics (CDE), CAP ALUM 330UF 20% 350V SNAP, Radial, Can - Snap-In, 74ABT | 見る |
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BDX33D-S | Bourns Inc., TRANS NPN DARL 120V 10A, TO-220-3, 74ABT | 見る |
 
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MC33164D-5G | ON Semiconductor, IC SENSING CIRCUIT UV 5V 8-SOIC, 8-SOIC (0.154", 3.90mm Width), 74ABT | 見る |
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8N4Q001EG-1108CDI8 | IDT, Integrated Device Technology Inc, IC OSC CLOCK QD FREQ 10CLCC, 10-CLCC, 74ABT | 見る |
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M55342K04B2B58RT5 | Vishay Dale, RES SMD 2.58KOHM 0.1% 0.15W 1505, 1505, 74ABT | 見る |
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EW-15-20-F-S-458 | Samtec Inc., .025" BOARD SPACERS, -, 74ABT | 見る |
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FCE17C37SC480 | Amphenol Commercial Products, CONN D-SUB RCPT 37POS R/A SOLDER, -, 74ABT | 見る |
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GTCL06F18-19PW | Amphenol Industrial Operations, GT 10C 10#16 PIN PLUG, -, 74ABT | 見る |
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DTS26F23-35PN | TE Connectivity Deutsch Connectors, CONN PLUG 100POS STRGHT W/PINS, -, 74ABT | 見る |
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GCM36DCAI-S189 | Sullins Connector Solutions, CONN EDGE DUAL FMALE 72POS 0.156, -, 74ABT | 見る |
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V24C12E150BG | Vicor Corporation, CONVERTER MOD DC/DC 12V 150W, Quarter Brick, 74ABT | 見る |
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| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DLR D# V36:1790_07325424 |
Texas Instruments |
Scan Test Device RoHS: Compliant
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0 |
SN74ABT8646DL D# V36:1790_07325422 |
Texas Instruments |
Scan Test Device RoHS: Compliant
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0 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DL |
Texas Instruments |
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP |
113 |
SN74ABT8646DLG4 |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP |
0 |
SN74ABT8646DLR |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP |
0 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DL D# 296-4112-5-ND |
Texas Instruments |
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP |
283 |
SN74ABT8646DLR D# SN74ABT8646DLR-ND |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP |
0 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DL |
Texas Instruments |
OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS |
48 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DLR |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
960 |
SN74ABT8646DLRG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
405 |
SN74ABT8646DLG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
327 |
SN74ABT8646DL |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
987 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DL D# 595-SN74ABT8646DL |
Texas Instruments |
Specialty Function Logic Device w/Octal Bus Trnscvr & Register RoHS: Compliant
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80 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DLRG4 D# NS-SN74ABT8646DLRG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
9747 |
SN74ABT8646DL D# NS-SN74ABT8646DL |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
7550 |
SN74ABT8646DLG4 D# NS-SN74ABT8646DLG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
7497 |
SN74ABT8646DLR D# NS-SN74ABT8646DLR |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
8865 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DL |
Texas Instruments | 12 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DL |
Texas Instruments |
SN74ABT8646 Scan Test Devices With Octal Bus Transceivers And Registers RoHS: Compliant
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5670 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DL |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
71 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DLR |
Texas Instruments |
Scan Test Devices With Octal Bus Transceivers And Registers |
25 |
SN74ABT8646DL |
Texas Instruments |
Scan Test Devices With Octal Bus Transceivers And Registers |
3 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DL |
Texas Instruments |
RFQ |
1578 |
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