| 部品番号 | SN74ABT8646DLR |
|---|---|
| メーカ | Texas Instruments |
| 説明 | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP |
| データシート | |
| パッケージ | 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) |
| ECAD |
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| 在庫 | 4,288 piece(s) |
| 単価 | $ 9.2278 * |
| リードタイム | 確認する |
| 推定配達時間 | 2 3 - 2 8 (迅速な出荷を選択) |
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| お支払い方法 | |
| 配達サービス |
| メーカ | Texas Instruments |
| 範疇 | 集積回路（IC） - ロジック - 特殊ロジック |
| パッケージ | 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) |
| ECAD |
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| シリーズ | 74ABT |
| ロジックタイプ | Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers |
| 供給電圧 | 4.5 V ~ 5.5 V |
| ビット数 | 8 |
| 動作温度 | -40°C ~ 85°C |
| 取付タイプ | Surface Mount |
| パッケージ/ケース | 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) |
| サプライヤデバイスパッケージ | 28-SSOP |
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2225Y1000275JXR | Knowles Syfer, CAP CER 2225, -, 74ABT | 見る |
 
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MAX4395ESD+T | Maxim Integrated, IC OP AMP 85MHZ R-R 14-SOIC, 14-SOIC (0.154", 3.90mm Width), 74ABT | 見る |
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SSA-LXB10G6Y2I2W | Lumex Opto/Components Inc., LED ARRAY 6GRN/2YLW/2RD WHT, -, 74ABT | 見る |
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FEMTOASMDC005F-2 | Littelfuse Inc., POLYSWITCH 0.05A RESET FUSE SMD, -, 74ABT | 見る |
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TRF1002 | Microchip Technology, ANT EXT ARISTOTLE RFA-02-5-F7H1, -, 74ABT | 見る |
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TC164-FR-07931RL | Yageo, RES ARRAY 4 RES 931 OHM 1206, 1206 (3216 Metric), Concave, Long Side Terminals, 74ABT | 見る |
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9T06031A21R0DBHFT | Yageo, RES SMD 21 OHM 0.5% 1/10W 0603, 0603 (1608 Metric), 74ABT | 見る |
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1672090000 | Weidmuller, TERM BLOCK PLUG 17POS 5.08MM, -, 74ABT | 見る |
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FOLC-150-02-S-Q | Samtec Inc., .050'' X .050 SOCKET STRIP, -, 74ABT | 見る |
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DDMM24W7PX | ITT Cannon, LLC, CONN D-SUB PLUG 24P PNL MNT SLDR, -, 74ABT | 見る |
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MS3110F12-3SY | Amphenol Industrial Operations, PT 3C 3#16 SKT RECP, -, 74ABT | 見る |
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FMB14DYHR | Sullins Connector Solutions, CONN EDGE DUAL FMALE 28POS 0.050, -, 74ABT | 見る |
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| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DLR D# V36:1790_07325424 |
Texas Instruments |
Scan Test Device RoHS: Compliant
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0 |
SN74ABT8646DL D# V36:1790_07325422 |
Texas Instruments |
Scan Test Device RoHS: Compliant
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0 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DLR |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP |
0 |
SN74ABT8646DL |
Texas Instruments |
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP |
113 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DL D# 296-4112-5-ND |
Texas Instruments |
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP |
283 |
SN74ABT8646DLR D# SN74ABT8646DLR-ND |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP |
0 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DL |
Texas Instruments |
OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS |
48 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DL |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
987 |
SN74ABT8646DLR |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
960 |
SN74ABT8646DLRG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
405 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DL D# 595-SN74ABT8646DL |
Texas Instruments |
Specialty Function Logic Device w/Octal Bus Trnscvr & Register RoHS: Compliant
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80 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DLR D# NS-SN74ABT8646DLR |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
8865 |
SN74ABT8646DLRG4 D# NS-SN74ABT8646DLRG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
9747 |
SN74ABT8646DL D# NS-SN74ABT8646DL |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
7550 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DL |
Texas Instruments | 12 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DL |
Texas Instruments |
SN74ABT8646 Scan Test Devices With Octal Bus Transceivers And Registers RoHS: Compliant
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5670 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DL |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
71 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DLR |
Texas Instruments |
Scan Test Devices With Octal Bus Transceivers And Registers |
25 |
SN74ABT8646DL |
Texas Instruments |
Scan Test Devices With Octal Bus Transceivers And Registers |
3 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DL |
Texas Instruments |
RFQ |
1578 |
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