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| 部品番号 | SN74ABT8646DWRG4 |
|---|---|
| メーカ | Texas Instruments |
| 説明 | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC |
| データシート | |
| パッケージ | 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| ECAD |
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| 在庫 | 2,528 piece(s) |
| 単価 | Request a Quote |
| リードタイム | 確認する |
| 推定配達時間 | 1 22 - 1 27 (迅速な出荷を選択) |
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| 配達サービス |
| メーカ | Texas Instruments |
| 範疇 | 集積回路（IC） - ロジック - 特殊ロジック |
| パッケージ | 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| ECAD |
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| シリーズ | 74ABT |
| ロジックタイプ | Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers |
| 供給電圧 | 4.5 V ~ 5.5 V |
| ビット数 | 8 |
| 動作温度 | -40°C ~ 85°C |
| 取付タイプ | Surface Mount |
| パッケージ/ケース | 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| サプライヤデバイスパッケージ | 28-SOIC |
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SIT1602BI-82-25E-33.333330Y | SiTime, -40 TO 85C, 7050, 25PPM, 2.5V, 3, -, 74ABT | 見る |
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C330C154J1G5TA | KEMET, CAP CER RAD 150NF 100V C0G 5%, -, 74ABT | 見る |
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0805Y3000200GQT | Knowles Syfer, CAP CER HIGH Q 0805, -, 74ABT | 見る |
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5561704304 | Dialight, LED PNL MT 1" 24V WT FLAT YEL, -, 74ABT | 見る |
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JANTX1N6164AUS | Microsemi Corporation, TVS DIODE 62.2VWM 112.8VC CPKG, SQ-MELF, C, 74ABT | 見る |
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JK1APF-24V | Panasonic Electric Works, RELAY GEN PURPOSE SPST 8A 24V, -, 74ABT | 見る |
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RLR32C4750FRR64 | Vishay Dale, RES 475 OHM 1% 1W AXIAL, Axial, 74ABT | 見る |
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RNC55J1502FSBSL | Vishay Dale, RES 15K OHM 1/8W 1% AXIAL, Axial, 74ABT | 見る |
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RW2S0DAR020F | Ohmite, RES SMD 0.02 OHM 1% 2W J LEAD, 4524 J-Lead, 74ABT | 見る |
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PFR5K20R0E | Ohmite, RES CHAS MNT 20 OHM 10% 696W, Radial, Tubular, 74ABT | 見る |
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DJT10F11-5PN | TE Connectivity Deutsch Connectors, CONN RCPT 5POS FLANGE W/PINS, -, 74ABT | 見る |
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VE-B14-IX-F1 | Vicor Corporation, CONVERTER MOD DC/DC 48V 75W, Full Brick, 74ABT | 見る |
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| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DW D# V36:1790_07325425 |
Texas Instruments |
Scan Test Device RoHS: Compliant
|
0 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DW |
Texas Instruments |
LOGIC, SCAN-TEST-DEV/XCVR, 28SOIC |
20 |
SN74ABT8646DWRG4 |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC |
0 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DWRG4 D# SN74ABT8646DWRG4-ND |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC |
0 |
SN74ABT8646DW D# 2156-SN74ABT8646DW-ND |
Rochester Electronics LLC |
SN74ABT8646 SCAN TEST DEVICES WI |
3229 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DW |
TEXAS INSTRUMENTS |
OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS |
414 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DW |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
558 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DW D# 595-SN74ABT8646DW |
Texas Instruments |
Specialty Function Logic Device w/Octal Bus Trnscvr & Register RoHS: Compliant
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54 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DWRG4 D# NS-SN74ABT8646DWRG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
6838 |
SN74ABT8646DW D# NS-SN74ABT8646DW |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
7885 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DW |
Texas Instruments |
ABT SERIES, 8-BIT BOUNDARY SCAN REG TRANSCEIVER, TRUE OUTPUT, PDSO28 |
18 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DW |
Texas Instruments |
SN74ABT8646 Scan Test Devices With Octal Bus Transceivers And Registers RoHS: Compliant
|
3229 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DW |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
498 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DW |
Texas Instruments |
Scan Test Devices With Octal Bus Transceivers And Registers |
1 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DW |
Texas Instruments |
RFQ |
10953 |
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