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部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DW D# V36:1790_07325425 |
Texas Instruments |
Scan Test Device RoHS: Compliant
|
0 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DW |
Texas Instruments |
LOGIC, SCAN-TEST-DEV/XCVR, 28SOIC |
20 |
SN74ABT8646DWRG4 |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC |
0 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DW D# 2156-SN74ABT8646DW-ND |
Rochester Electronics LLC |
SN74ABT8646 SCAN TEST DEVICES WI |
3229 |
SN74ABT8646DWRG4 D# SN74ABT8646DWRG4-ND |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC |
0 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DW |
TEXAS INSTRUMENTS |
OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS |
414 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DW |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
558 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DW D# 595-SN74ABT8646DW |
Texas Instruments |
Specialty Function Logic Device w/Octal Bus Trnscvr & Register RoHS: Compliant
|
54 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DW D# NS-SN74ABT8646DW |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
7885 |
SN74ABT8646DWRG4 D# NS-SN74ABT8646DWRG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
6838 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DW |
Texas Instruments |
ABT SERIES, 8-BIT BOUNDARY SCAN REG TRANSCEIVER, TRUE OUTPUT, PDSO28 |
18 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DW |
Texas Instruments |
SN74ABT8646 Scan Test Devices With Octal Bus Transceivers And Registers RoHS: Compliant
|
3229 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DW |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
498 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DW |
Texas Instruments |
Scan Test Devices With Octal Bus Transceivers And Registers |
1 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8646DW |
Texas Instruments |
RFQ |
10953 |
Heisenerの品質へのこだわりは、調達、テスト、出荷、そしてその間のあらゆるステップのための私達のプロセスを形作りました。 この基盤は私達が販売する各部品の基礎になります。
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86-755-83210559-802
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TRANS NPN 40V 30A TO-3
IC VREF SERIES 2.048V 6DFN
TVS DIODE 5VWM 6TSOP
IC MODULE REG DC/DC 8A 68BGA
DIODE SCHOTTKY 1A 100V TO-269AA
CAP SUPER 470MF 5.5V 3-SMD
CONN MAGJACK 1PORT 1000 BASE-TX
IC MCU 8BIT NVSRAM 80QFP
DIODE GEN PURP 400V 1A DO204AL
FIXED IND 100UH 510MA 600 MOHM