| 部品番号 | SN74ABT8952DL |
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| メーカ | Texas Instruments |
| 説明 | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP |
| データシート | |
| パッケージ | 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) |
| ECAD |
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| 在庫 | 5,728 piece(s) |
| 単価 | $ 6.8056 * |
| リードタイム | 確認する |
| 推定配達時間 | 11 26 - 12 1 (迅速な出荷を選択) |
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| お支払い方法 | |
| 配達サービス |
| メーカ | Texas Instruments |
| 範疇 | 集積回路（IC） - ロジック - 特殊ロジック |
| パッケージ | 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) |
| ECAD |
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| シリーズ | 74ABT |
| ロジックタイプ | Scan Test Device with Registered Bus Transceiver |
| 供給電圧 | 4.5 V ~ 5.5 V |
| ビット数 | 8 |
| 動作温度 | -40°C ~ 85°C |
| 取付タイプ | Surface Mount |
| パッケージ/ケース | 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) |
| サプライヤデバイスパッケージ | 28-SSOP |
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ASTMHTD-13.000MHZ-ZC-E-T3 | Abracon LLC, OSC MEMS 13MHZ H/LVCMOS SMD, 4-SMD, No Lead, 74ABT | 見る |
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SIT1602BI-73-30E-28.636300D | SiTime, -40 TO 85C, 2016, 50PPM, 3.0V, 2, -, 74ABT | 見る |
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TARW476K010 | AVX Corporation, CAP TANT 47UF 10V 10% AXIAL, Axial, 74ABT | 見る |
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1812Y2000332KCR | Knowles Syfer, CAP CER 3300PF 200V C0G/NP0 1812, 1812 (4532 Metric), 74ABT | 見る |
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1210Y0630221GCR | Knowles Syfer, CAP CER 220PF 63V C0G/NP0 1210, 1210 (3225 Metric), 74ABT | 見る |
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1210Y1000332KXR | Knowles Syfer, CAP CER 3300PF 100V X7R 1210, 1210 (3225 Metric), 74ABT | 見る |
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S-1313D10-M5T1U3 | SII Semiconductor Corporation, IC REG LINEAR 100MA SOT23-5, SC-74A, SOT-753, 74ABT | 見る |
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XMC1100T016X0064AAXUMA1 | Infineon Technologies, IC MCU 32BIT 64KB FLASH 16TSSOP, 16-TSSOP (0.173", 4.40mm Width), 74ABT | 見る |
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49FCT805BTSOG8 | IDT, Integrated Device Technology Inc, IC CLOCK BUFFER 1:5 20SOIC, 20-SOIC (0.295", 7.50mm Width), 74ABT | 見る |
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USUR1000-302G | US Sensor, NTC THERMISTOR 3K OHM 2% LUG, Ring Lug, 74ABT | 見る |
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97-3108A20-15P-417-940 | Amphenol Industrial Operations, AB 7C 7#12 PIN PLUG, -, 74ABT | 見る |
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D38999/24ZC8PB-LC | Souriau, CONN RCPT HSNG MALE 8POS PNL MNT, -, 74ABT | 見る |
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| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8952DL |
Texas Instruments |
LOGIC, SCAN-TEST-DEV/XCVR, 28SSOP |
35 |
SN74ABT8952DLR |
Texas Instruments |
IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP |
0 |
SN74ABT8952DLRG4 |
Texas Instruments |
IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP |
0 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8952DLR D# SN74ABT8952DLR-ND |
Texas Instruments |
IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP |
0 |
SN74ABT8952DL D# 2156-SN74ABT8952DL-TI-ND |
Rochester Electronics LLC |
BOUNDARY SCAN TRANSCEIVER |
17133 |
SN74ABT8952DLRG4 D# SN74ABT8952DLRG4-ND |
Texas Instruments |
IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP |
0 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8952DL |
Rochester Electronics LLC |
OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS |
20388 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8952DL |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
933 |
SN74ABT8952DLRG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
323 |
SN74ABT8952DLR |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
208 |
SN74ABT8952DLG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
132 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8952DLRG4 D# NS-SN74ABT8952DLRG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
7447 |
SN74ABT8952DL D# NS-SN74ABT8952DL |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
9742 |
SN74ABT8952DLR D# NS-SN74ABT8952DLR |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
5996 |
SN74ABT8952DLG4 D# NS-SN74ABT8952DLG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
3262 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8952DL |
Texas Instruments |
Boundary Scan Reg Bus Transceiver, ABT Series, 1-Func, 8-Bit, True Output, BICMOS, PDSO28 RoHS: Compliant
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17133 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74ABT8952DLRG4 |
Texas Instruments |
RFQ |
14362 |
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