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部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW D# V36:1790_07335369 |
Texas Instruments |
Scan Test Device RoHS: Compliant
|
0 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADWG4 |
Texas Instruments |
BOUNDARY-SCAN TEST DEVICE, SOIC-24, Logic Device Type:Buffer, Supply Voltage Min:4.5V, Supply Voltage Max:5.5V, Logic Case Style:SOIC, No. of Pins:24, Operating Temperature Min:0C, Operating Temperature Max:70C, Packaging:Each , RoHS Compliant: Yes |
0 |
SN74BCT8244ADWE4 |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC |
0 |
SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC |
0 |
SN74BCT8244ADWRE4 |
Texas Instruments |
IC, BOUNDARY-SCAN TEST DEVICE, SOIC-24, Supply Voltage Range:4.5V to 5.5V, Logic Case Style:SOIC, No. of Pins:24, Operating Temperature Range:0C to +70C, Family Type:BCT, Input Type:TTL, Leaded Process Compatible:Yes , RoHS Compliant: Yes |
0 |
SN74BCT8244ADWRG4 |
Texas Instruments |
BOUNDARY-SCAN TEST DEVICE, SOIC-24, FULL REEL, Logic Device Type:Buffer, Supply Voltage Min:4.5V, Supply Voltage Max:5.5V, Logic Case Style:SOIC, No. of Pins:24, Operating Temperature Min:0C, Operating Temperature Max:70C , RoHS Compliant: Yes |
0 |
SN74BCT8244ADWR |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC |
0 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
Scan Test DeviceWithBuffers SOIC-24 74 Series RoHS |
11 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW D# 296-47718-ND |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC |
86 |
SN74BCT8244ADWR D# 2156-SN74BCT8244ADWR-ND |
Rochester Electronics LLC |
BUS DRIVER |
2000 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
In stock shipping within 2days |
364 |
SN74BCT8244ADWR |
Texas Instruments |
In stock shipping within 2days |
325 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW D# 3121022 |
Texas Instruments |
LOGIC, SCAN TEST DEVICE BUFF, 24SOIC RoHS: Compliant
Min Qty: 1
Container: Each
|
21 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADWND |
Texas Instruments |
OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS |
2 |
SN74BCT8244ADWE4 |
Texas Instruments |
OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS |
434 |
SN74BCT8244ADWR |
Texas Instruments |
OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS |
4522 |
SN74BCT8244ADW |
OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS |
2929 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADWR0023 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
807 |
SN74BCT8244ADWND |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
408 |
SN74BCT8244ADWE4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
1003 |
SN74BCT8244ADWRE4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
316 |
SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
504 |
SN74BCT8244ADWRG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
147 |
SN74BCT8244ADWR |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
543 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW D# C362443 |
Texas Instruments | 11 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
OEM/CM Immediate delivery |
1325 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADWG4 D# NS-SN74BCT8244ADWG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
2917 |
SN74BCT8244ADWR D# NS-SN74BCT8244ADWR |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
7273 |
SN74BCT8244ADWE4 D# NS-SN74BCT8244ADWE4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
1575 |
SN74BCT8244ADWRE4 D# NS-SN74BCT8244ADWRE4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
2591 |
SN74BCT8244ADW D# NS-SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
4288 |
SN74BCT8244ADWRG4 D# NS-SN74BCT8244ADWRG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
4995 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW-ND |
Texas Instruments | 1 | |
SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
BCT/FBT SERIES, DUAL 4-BIT BOUNDARY SCAN DRIVER, TRUE OUTPUT, PDSO24 |
124 |
SN74BCT8244ADWE4 |
Texas Instruments | 292 | |
SN74BCT8244ADWR |
Texas Instruments | 124 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADWR |
Texas Instruments |
Boundary Scan Bus Driver, BCT/FBT Series, 2-Func, 4-Bit, True Output, BICMOS, PDSO24 RoHS: Compliant
|
2000 |
SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
SN74BCT8244A IEEE Std 1149.1 (JTAG) Boundary-Scan Test Device With Octal Buffers RoHS: Compliant
|
47 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADWR |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
3816 |
SN74BCT8244ADWE4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
381 |
SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
2477 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
IN stock Immediate delivery |
1340 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
IEEE Std 1149.1 (JTAG) Boundary-Scan Test Device With Octal Buffers |
3 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADWE4 |
Texas Instruments |
RFQ |
2938 |
SN74BCT8244ADW |
mfr |
RFQ |
6929 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW D# 3121022 |
Texas Instruments |
LOGIC, SCAN TEST DEVICE BUFF, 24SOIC RoHS: Compliant
Min Qty: 1
Container: Each
|
21 |
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