* Please refer to the English Version as our Official Version.
お支払い方法 | |
配達サービス |
100%の顧客満足度を保証します。
経験豊富なセールスチームとテクニカルサポートチームがすべての顧客を満足させるためにサービスをサポートしています
90日間の保証を提供します。
あなたが受け取ったアイテムが完全な品質でないならば、我々はあなたの払い戻しまたは交換に対して責任があります、しかし、アイテムは彼らの元の状態で返されなければなりません。
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW D# V36:1790_07335369 |
Texas Instruments |
Scan Test Device RoHS: Compliant
|
0 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADWE4 |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC |
0 |
SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC |
0 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
Scan Test DeviceWithBuffers SOIC-24 74 Series RoHS |
11 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW D# 296-47718-ND |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC |
86 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
In stock shipping within 2days |
364 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW D# 3121022 |
Texas Instruments |
LOGIC, SCAN TEST DEVICE BUFF, 24SOIC RoHS: Compliant
Min Qty: 1
Container: Each
|
21 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW |
OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS |
2929 | |
SN74BCT8244ADWE4 |
Texas Instruments |
OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS |
434 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
504 |
SN74BCT8244ADWE4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
1003 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW D# C362443 |
Texas Instruments | 11 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
OEM/CM Immediate delivery |
1325 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADWE4 D# NS-SN74BCT8244ADWE4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
1575 |
SN74BCT8244ADW D# NS-SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
4288 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
BCT/FBT SERIES, DUAL 4-BIT BOUNDARY SCAN DRIVER, TRUE OUTPUT, PDSO24 |
124 |
SN74BCT8244ADWE4 |
Texas Instruments | 292 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
SN74BCT8244A IEEE Std 1149.1 (JTAG) Boundary-Scan Test Device With Octal Buffers RoHS: Compliant
|
47 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
2477 |
SN74BCT8244ADWE4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
381 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
IN stock Immediate delivery |
1340 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
IEEE Std 1149.1 (JTAG) Boundary-Scan Test Device With Octal Buffers |
3 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADWE4 |
Texas Instruments |
RFQ |
2938 |
SN74BCT8244ADW |
mfr |
RFQ |
6929 |
部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW D# 3121022 |
Texas Instruments |
LOGIC, SCAN TEST DEVICE BUFF, 24SOIC RoHS: Compliant
Min Qty: 1
Container: Each
|
21 |
Heisenerの品質へのこだわりは、調達、テスト、出荷、そしてその間のあらゆるステップのための私達のプロセスを形作りました。 この基盤は私達が販売する各部品の基礎になります。
あなたは SN74BCT8244ADWE4 についての質問がありますか?
86-755-83210559-841
このページを表示するにはスキャンしてください
IC TXRX RS-232 5V 0.1UF 28SSOP
IC TXRX RS-232 LP 16-SOIC
IC REMOTE TEMP SENSOR USSOP
DIODE SCHOTTKY 30V 500MA SOD123
FIXED IND 100UH 1.2A 300 MOHM
TRIMMER 5K OHM 0.25W SMD
IC FLASH 1GBIT 20NS 48TSOP
IC REG CTRLR BUCK PMBUS 32TQFN
DIODE ZENER 4.7V DO213AA
IC OPAMP GP 1.3MHZ 8MSOP