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| 部品番号 | SN74BCT8244ADWE4 |
|---|---|
| メーカ | Texas Instruments |
| 説明 | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC |
| データシート | |
| パッケージ | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| ECAD |
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| 在庫 | 5,616 piece(s) |
| 単価 | $ 10.1269 * |
| リードタイム | 確認する |
| 推定配達時間 | 11 29 - 12 4 (迅速な出荷を選択) |
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| お支払い方法 | |
| 配達サービス |
| メーカ | Texas Instruments |
| 範疇 | 集積回路（IC） - ロジック - 特殊ロジック |
| パッケージ | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| ECAD |
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| シリーズ | 74BCT |
| ロジックタイプ | Scan Test Device with Buffers |
| 供給電圧 | 4.5 V ~ 5.5 V |
| ビット数 | 8 |
| 動作温度 | 0°C ~ 70°C |
| 取付タイプ | Surface Mount |
| パッケージ/ケース | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| サプライヤデバイスパッケージ | 24-SOIC |
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VJ0402D470GXAAC | Vishay Vitramon, CAP CER 47PF 50V C0G/NP0 0402, 0402 (1005 Metric), 74BCT | 見る |
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C315C151FAG5TA7301 | KEMET, CAP CER 150PF 250V C0G RADIAL, Radial, 74BCT | 見る |
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UKL1E6R8KDDANA | Nichicon, CAP ALUM 6.8UF 10% 25V RADIAL, Radial, Can, 74BCT | 見る |
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D55342K07B2B05PWS | Vishay Dale, RES SMD 2.05K OHM 0.1% 1/4W 1206, 1206 (3216 Metric), 74BCT | 見る |
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HDWM-25-60-S-D-705 | Samtec Inc., .050" BOARD SPACERS, -, 74BCT | 見る |
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FW-30-05-F-D-275-157-TR | Samtec Inc., .050'' BOARD SPACERS, -, 74BCT | 見る |
 
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2-2013022-1 | TE Connectivity AMP Connectors, CONN SKT SODIMM 204POS SMD, -, 74BCT | 見る |
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C48-10R18-8P7-102 | Cinch Connectivity Solutions, CONN RCPT MALE 8POS GOLD CRIMP, -, 74BCT | 見る |
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D38999/24FJ29PN | TE Connectivity Deutsch Connectors, CONN RCPT 29POS JAM NUT W/PINS, -, 74BCT | 見る |
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GTS030A22-22P | Amphenol Industrial Operations, GT 4C 4#8 PIN RECP, -, 74BCT | 見る |
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VE-JN0-MX-S | Vicor Corporation, CONVERTER MOD DC/DC 5V 75W, Half Brick, 74BCT | 見る |
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REC5-053.3SRW/H6/C/SMD | Recom Power, CONV DC/DC 5W 4.5-9VIN 3.3VOUT, 24-SMD Module, 18 Leads, 74BCT | 見る |
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| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW D# V36:1790_07335369 |
Texas Instruments |
Scan Test Device RoHS: Compliant
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0 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADWE4 |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC |
0 |
SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC |
0 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
Scan Test DeviceWithBuffers SOIC-24 74 Series RoHS |
11 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW D# 296-47718-ND |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC |
86 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
In stock shipping within 2days |
364 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW D# 3121022 |
Texas Instruments |
LOGIC, SCAN TEST DEVICE BUFF, 24SOIC RoHS: Compliant
Min Qty: 1
Container: Each
|
21 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADWE4 |
Texas Instruments |
OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS |
434 |
SN74BCT8244ADW |
OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS |
2929 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADWE4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
1003 |
SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
504 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW D# C362443 |
Texas Instruments | 11 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
OEM/CM Immediate delivery |
1325 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW D# NS-SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
4288 |
SN74BCT8244ADWE4 D# NS-SN74BCT8244ADWE4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
1575 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
BCT/FBT SERIES, DUAL 4-BIT BOUNDARY SCAN DRIVER, TRUE OUTPUT, PDSO24 |
124 |
SN74BCT8244ADWE4 |
Texas Instruments | 292 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
SN74BCT8244A IEEE Std 1149.1 (JTAG) Boundary-Scan Test Device With Octal Buffers RoHS: Compliant
|
47 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADWE4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
381 |
SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
2477 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
IN stock Immediate delivery |
1340 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments |
IEEE Std 1149.1 (JTAG) Boundary-Scan Test Device With Octal Buffers |
3 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADWE4 |
Texas Instruments |
RFQ |
2938 |
SN74BCT8244ADW |
mfr |
RFQ |
6929 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ADW D# 3121022 |
Texas Instruments |
LOGIC, SCAN TEST DEVICE BUFF, 24SOIC RoHS: Compliant
Min Qty: 1
Container: Each
|
21 |
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