| 部品番号 | SN74BCT8244ANT |
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| メーカ | Texas Instruments |
| 説明 | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP |
| データシート | |
| パッケージ | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
| ECAD |
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| 在庫 | 6,176 piece(s) |
| 単価 | Request a Quote |
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| メーカ | Texas Instruments |
| 範疇 | 集積回路（IC） - ロジック - 特殊ロジック |
| パッケージ | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
| ECAD |
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| シリーズ | 74BCT |
| ロジックタイプ | Scan Test Device with Buffers |
| 供給電圧 | 4.5 V ~ 5.5 V |
| ビット数 | 8 |
| 動作温度 | 0°C ~ 70°C |
| 取付タイプ | Through Hole |
| パッケージ/ケース | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
| サプライヤデバイスパッケージ | 24-PDIP |
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1206Y0160332KDR | Knowles Syfer, CAP CER 3300PF 16V X7R 1206, 1206 (3216 Metric), 74BCT | 見る |
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0603J2000821JXT | Knowles Syfer, CAP CER 820PF 200V X7R 0603, 0603 (1608 Metric), 74BCT | 見る |
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BA78M09CP-E2 | Rohm Semiconductor, IC REG LINEAR 9V 500MA TO220CP-3, TO-220-3 Cropped Leads, 74BCT | 見る |
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TLE8104EXUMA2 | Infineon Technologies, IC SWITCH LOSIDE 4CH DSO-20, 20-SOIC (0.295", 7.50mm Width), 74BCT | 見る |
 
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MC17XSF500EK | NXP, IC SWITCH PENTA 32SOIC, 32-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) Exposed Pad, 74BCT | 見る |
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ALSR013K000JE12 | Vishay Dale, RES 3K OHM 1W 5% AXIAL, Axial, 74BCT | 見る |
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FTSH-107-02-F-DV-ES | Samtec Inc., .050'' X .050 TERMINAL STRIP, -, 74BCT | 見る |
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97-3107A20-14PZ | Amphenol Industrial Operations, AB 5C 3#12, 2#8 PIN PLUG, -, 74BCT | 見る |
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D38999/26TH55JB-LC | Amphenol Aerospace Operations, CONN PLUG HSG FMALE 55POS INLINE, -, 74BCT | 見る |
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EEC07DREN-S734 | Sullins Connector Solutions, CONN EDGE DUAL FMALE 14POS 0.100, -, 74BCT | 見る |
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1703510002 | Molex, LLC, CONN HSG RCPT 2POS 11.00MM BLACK, -, 74BCT | 見る |
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0761556107 | Molex, LLC, IMPACT BP 4X10 GL/W SN/PB, -, 74BCT | 見る |
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| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ANT |
Texas Instruments |
SCAN TEST DEVICE, DIP-24, Logic Type:Scan Test Device, Logic Case Style:DIP, No. of Pins:24, Supply Voltage Min:4.5V, Supply Voltage Max:5.5V, Operating Temperature Min:0C, Operating Temperature Max:70C, Packaging:Each, MSL:- , RoHS Compliant: Yes |
0 |
SN74BCT8244ANTE4 |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP |
0 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ANT D# 2156-SN74BCT8244ANT-TI-ND |
Rochester Electronics LLC |
BUS DRIVER |
6680 |
SN74BCT8244ANTG4 D# SN74BCT8244ANTG4-ND |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP |
0 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ANT |
Rochester Electronics LLC |
OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS |
7949 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ANT |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
363 |
SN74BCT8244ANTE4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
1007 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ANT D# NS-SN74BCT8244ANT |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
9274 |
SN74BCT8244ANTE4 D# NS-SN74BCT8244ANTE4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
3958 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ANT |
Texas Instruments |
Driver/Buffer Device, Dual, 4-Bit, 24 Pin, Plastic, DIP |
23 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ANT |
Texas Instruments |
Boundary Scan Bus Driver, BCT/FBT Series, 2-Func, 4-Bit, True Output, BICMOS, PDIP24 RoHS: Compliant
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6680 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8244ANT |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
252 |
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