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| 部品番号 | SN74BCT8374ADWR |
|---|---|
| メーカ | Texas Instruments |
| 説明 | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC |
| データシート | |
| パッケージ | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| ECAD |
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| 在庫 | 5,968 piece(s) |
| 単価 | Request a Quote |
| リードタイム | 確認する |
| 推定配達時間 | 7 7 - 7 12 (迅速な出荷を選択) |
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| メーカ | Texas Instruments |
| 範疇 | 集積回路（IC） - ロジック - 特殊ロジック |
| パッケージ | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| ECAD |
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| シリーズ | 74BCT |
| ロジックタイプ | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| 供給電圧 | 4.5 V ~ 5.5 V |
| ビット数 | 8 |
| 動作温度 | 0°C ~ 70°C |
| 取付タイプ | Surface Mount |
| パッケージ/ケース | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| サプライヤデバイスパッケージ | 24-SOIC |
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SIT1602AIA33-33E-25.000000Y | SiTime, OSC XO 3.3V 25MHZ OE, 4-SMD, No Lead, 74BCT | 見る |
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DEBE33D103ZN7A | Murata, CAP CER 10000PF 2KV RADIAL, Radial, Disc, 74BCT | 見る |
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IEGZX66-1-62-30.0-A-22-V | Sensata Technologies/Airpax, CIRCUIT BREAKER, -, 74BCT | 見る |
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ATT-0290-13-SMA-02 | Cinch Connectivity Solutions Midwest Microwave, ATTENUATOR 13 DB DC 18GHZ, SMA In-Line Module, 74BCT | 見る |
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CRCW06031M60JNEB | Vishay Dale, RES SMD 1.6M OHM 5% 1/10W 0603, 0603 (1608 Metric), 74BCT | 見る |
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2-382882-1 | TE Connectivity AMP Connectors, CONN IC DIP SOCKET 6POS TIN, -, 74BCT | 見る |
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JT06RE16-13P-LC | Amphenol Aerospace Operations, CONN PLUG HSNG MALE 13POS INLINE, -, 74BCT | 見る |
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BACC45FN8-3P8H | Cinch Connectivity Solutions, CONN RCPT HSNG MALE 3POS PNL MT, -, 74BCT | 見る |
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MS27656T15B35PLC | Amphenol Aerospace Operations, CONN RCPT HSNG MALE 37POS PNL MT, -, 74BCT | 見る |
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VI-JWJ-MZ-F1 | Vicor Corporation, CONVERTER MOD DC/DC 36V 25W, Half Brick, 74BCT | 見る |
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REM6-2424S/A/CTRL | Recom Power, CONV DC/DC 6W 18-36VIN 24VOUT, 24-DIP Module, 6 Leads, 74BCT | 見る |
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XC6129C15FNR-G | Torex Semiconductor Ltd, VOLTAGE DETECTOR WITH DELAY TIME, -, 74BCT | 見る |
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| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8374ADW D# V36:1790_07335374 |
Texas Instruments |
Scan Test Device RoHS: Compliant
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0 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8374ADW |
Texas Instruments | 30 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8374ADWRG4 |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC |
0 |
SN74BCT8374ADWRE4 |
Rochester Electronics LLC |
74BCT8374 Flip Flop SN74BCT8374ADWRE4 |
0 |
SN74BCT8374ADWR |
Texas Instruments |
N/A BCT/FBT SERIES, 8-BIT BOUNDARY SCAN DRIVER, TRUE OUTPUT, PDSO24 PLASTIC, SO-24 |
1000 |
SN74BCT8374ADW |
Texas Instruments |
SCAN TEST DEVICE, D-FLIP FLOP SOIC24, Flip-Flop Type:D, Propagation Delay:6.7ns, Supply Voltage Min:4.5V, Supply Voltage Max:5.5V, Logic Case Style:SOIC, No. of Pins:24, Frequency:70MHz, Output Current:64mA, Packaging:Each , RoHS Compliant: Yes |
0 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8374ADWRG4 D# SN74BCT8374ADWRG4-ND |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC |
0 |
SN74BCT8374ADW D# 296-33849-5-ND |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC |
75 |
SN74BCT8374ADWR D# SN74BCT8374ADWR-ND |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC |
0 |
SN74BCT8374ADWRE4 D# SN74BCT8374ADWRE4-ND |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC |
0 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8374ADW |
OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS |
3154 | |
SN74BCT8374ADWR |
OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS |
2378 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8374ADWRE4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
306 |
SN74BCT8374ADWR |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
1060 |
SN74BCT8374ADW |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
862 |
SN74BCT8374ADWR00 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
536 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8374ADW D# 595-SN74BCT8374ADW |
Texas Instruments |
Specialty Function Logic Device w/Octal D-Typ Edge-Trig Flip-Flop RoHS: Compliant
|
104 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8374ADWRE4 D# NS-SN74BCT8374ADWRE4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
1821 |
SN74BCT8374ADWRG4 D# NS-SN74BCT8374ADWRG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
5376 |
SN74BCT8374ADW D# NS-SN74BCT8374ADW |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
5626 |
SN74BCT8374ADWR D# NS-SN74BCT8374ADWR |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
5215 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8374ADWR |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
3020 |
SN74BCT8374ADW |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
3797 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8374ADW |
Texas Instruments |
Scan Test Device With Octal D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
996 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8374ADW |
Texas Instruments |
shipping today |
3009 |
| 部品番号 | メーカ | 説明 | 在庫 |
SN74BCT8374ADW |
Texas Instruments |
RFQ |
9504 |
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